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テスタラインナップ

ダイオード（ツェナ含む）

メーカ名 テスト技術
國洋電機工業株式会社 マルチチップの分割測定による高速化。（従来比1/2）
株式会社テセック 2個同時測定による高速化。（従来比1/2）

トランジスタ（IGBT・RF含む）

メーカ名 テスト技術
株式会社テセック
（株）東京精密		 超低ON抵抗測定技術（従来デバイスと比較すると1/10以下。［typ.2.5mΩ］）
株式会社アドバンテスト
アジレント・テクノロジー株式会社他		 RF最先端高調波(6GHz帯)のテスト技術。

リニア（レギュレータ、ディテクタ、ホール素子）

メーカ名 テスト技術
株式会社スパンドニクス 異品種多数個取りに対応。（最大128ピン）
横河電機株式会社 同時測定による高速化。（最大64ピン）
株式会社シバソク 多数個取りに対応。（最大128ピン）

ロジックIC、ミックスドIC

メーカ名 テスト技術
横河電機株式会社 LSIの測定に対応可能。（最大512ピン）
株式会社アドバンテスト LSIの測定に対応可能。

メモリIC（S-EEPROM、P-EEPROM）

メーカ名 テスト技術
株式会社アドバンテスト
日立ハイテクエンジニアリング		 大規模製品の多数個取りが可能。（最大32個同測）
株式会社藤田製作所
山田電音株式会社		 低価格テスタによる小中規模製品のテスト対応。（最大4個同測）

マイコン搭載（セキュリティIC）

メーカ名 テスト技術
日立ハイテクエンジニアリング
横河電機株式会社		 メモリテスタ及びロジックテスタを用いたテスト技術。

RF-IC/RF-IDデバイス

メーカ名 テスト技術
アンリツ株式会社
ナショナルインスツルメンツ 他		 ・デジタル変調方式（携帯電話、無線LAN用）のテスト技術。
・高周波(ANT-SW、LNA、PA)のテスト技術。

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